Feasibility study of a non-destructive fruit maturity testing system on banana utilizing capacitive properties

Link to publisher's homepage at http://ieeexplore.ieee.org

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Zulkifli, Husin, Abdul Hallis, Abdul Aziz, R. Badlishah, Ahmad
مؤلفون آخرون: zulhusin@unimap.edu.my
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: Institute of Electrical and Electronics Engineering (IEEE) 2009
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://dspace.unimap.edu.my/xmlui/handle/123456789/7362
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
الوصف
الملخص:Link to publisher's homepage at http://ieeexplore.ieee.org