Feasibility study of a non-destructive fruit maturity testing system on banana utilizing capacitive properties
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| 主要な著者: | , , |
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| その他の著者: | |
| フォーマット: | 論文 |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
Institute of Electrical and Electronics Engineering (IEEE)
2009
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| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | http://dspace.unimap.edu.my/xmlui/handle/123456789/7362 |
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