Ballistic quantum transport in a nanoscale metal-oxide-semiconductor field effect transistor
The ballistic saturation velocity in a nanoscale metal-oxide-semiconductor field effect transistor (MOSFET) is revealed to be limited to the Fermi velocity in a degenerately induced channel appropriate for the quasi-two-dimensional nature of the inverted channel. The saturation point drain velocity...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Arora, Vijay K., Tan, Michael L. P., Saad, Ismail, Ismail, Razali |
---|---|
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
American Institute of Physics
2007
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/7500/ http://dx.doi.org/10.1063/1.2780058 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Vertical channel structure and ballistic carrier transport of nanoscale metal oxide semiconductor field effect transistor
بواسطة: Saad, Ismail
منشور في: (2009) -
Physics-based modelling of ballistic transport in nanoscale transistor
بواسطة: Saad, Ismail, وآخرون
منشور في: (2009) -
The channel mobility degradation in a nanoscale metal-oxide-semiconductor field effect transistor due to injection from the ballistic contacts
بواسطة: Arora, Vijay Kumar, وآخرون
منشور في: (2011) -
Ballistic transport in nanoscale devices
بواسطة: Arora, Vijay Kumar
منشور في: (2012) -
Ballistic quantum transport in nano devices and circuits
بواسطة: Arora, Vijay Kumar
منشور في: (2008)