Characterization of electrostatic discharge threshold voltage of phase-shift mask reticle
A reticle is a stencil used in lithography process for forming integrated circuit (IC) on silicon substrate. It consists of a thin (100 nm) coating of masking metallic patterned (features) with critical dimension (CD) of nanometers on a thicker quartz substrate. The features can be damaged by electr...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
---|---|
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
Institute Of Advanced Engineering And Science (IAES)
2022
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utem.edu.my/id/eprint/26201/2/24876-50758-1-PB.PDF http://eprints.utem.edu.my/id/eprint/26201/ https://ijece.iaescore.com/index.php/IJECE/article/view/24876/15469 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|