Modeling and simulation of InAs photodiode on electric field profile and dark current characteristics
This work reports the dark current density-voltage (J-V) characteristics and electric field profile of InAs photodiode with 100μm × 1μm cross sectional area at a temperature of 300K. The device structure was simulated using 2D SILVACO software and the model was used to determine all the optimum mate...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Roslan, P.S.A., Ker, P.J., Ahmad, I., Pasupuleti, J., Fam, P.Z. |
---|---|
التنسيق: | وقائع المؤتمر |
اللغة: | en_US |
منشور في: |
2017
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Modeling and simulation of InAs photodiode on electric field profile and dark current characteristics
بواسطة: Roslan P.S.A., وآخرون
منشور في: (2023) -
Temperature dependence of leakage current in InAs avalanche photodiodes
بواسطة: Ker, P.J., وآخرون
منشور في: (2017) -
Temperature dependence of gain and excess noise in InAs electron avalanche photodiodes
بواسطة: Ker, P.J., وآخرون
منشور في: (2017) -
InAs electron-avalanche photodiodes: From leaky diodes to extremely low noise avalanche photodiodes
بواسطة: Ker, P.J., وآخرون
منشور في: (2017) -
Surface passivation of InAs avalanche photodiodes for low-noise infrared imaging
بواسطة: Ker, P.J., وآخرون
منشور في: (2017)