Improvement of Cu-Al bond integrity on low k pad structures
Gold wires are commonly used for wire-bonding and it fits well the industrial requirements. However, the price of Gold wires increasing significantly, Copper wires is a potential replacement for Gold due to their superior electrical and mechanical properties. In order to incorporate Cu in the wire-b...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Kid W.B., Leng E.P., Yong C.C., Yi O.X., Kar Y.B. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | 36992192300 |
التنسيق: | Conference paper |
منشور في: |
2023
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Characterization of intermetallic growth of gold ball bonds on aluminum bond pads
بواسطة: Mohd Khairuddin, Md Arshad, وآخرون
منشور في: (2009) -
Extended reliability of gold and copper ball bonds in microelectronic packaging
بواسطة: Chong, Leong Gan, وآخرون
منشور في: (2014) -
Characterization of Intermetallic Growth in Gold Ballbonds on Aluminum Metallization
بواسطة: Lim Moy Fung
منشور في: (2008) -
Surface roughness and adhesion analysis study on ultrasonic gold ball onto aluminium bond pad
بواسطة: Vithyacharan, Retnasamy
منشور في: (2014) -
Metallurgical bond integrity of C45 ultra fine pitch with 18m copper wire
بواسطة: Kid W.B., وآخرون
منشور في: (2023)