Process and Characterization of Strained Silicon MOSFET Incorporating Dielectric Pocket (SDP-MOSFET)

In this paper, we propose a fabrication process of Strained Silicon MOSFET incorporating Dielectric Pocket (SDP-MOSFET). By employing TCAD tools, a systematic process simulation in realizing the SDP-MOSFET structure is done successfully. By using vertical and horizontal doping profiles, 120 nm...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Mohammed Napiah, Zul Atfyi Fauzan, Idris, Muhammad Idzdihar, Mohd Said, Muzalifah, Abdul Hamid, Afifah Maheran, Ali, Nur Alisa, Hamzah, Rostam Affendi
التنسيق: Conference or Workshop Item
اللغة:English
منشور في: 2011
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://eprints.utem.edu.my/id/eprint/8535/1/012._1569455953.pdf
http://eprints.utem.edu.my/id/eprint/8535/
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!