PROBABILISTIC METHODS FOR NANG-COMPUTING

As CMOS transistors enter below 20nm dimension, the frequent static and intermiitent dynamic fluctuation will result to variations in the electrical parameters of those transistors. In tum, these variations will cause the performance of CMOS transistors to be unstable, which will then continue to...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: SAWARAN SINGH, NARINDERJIT SINGH
التنسيق: أطروحة
اللغة:English
منشور في: 2017
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://utpedia.utp.edu.my/id/eprint/21551/1/2015%20-ELECTRICAL%20%26%20ELECTRONICS%20-%20PROBABILISTIC%20METHOODS%20FOR%20NANO-COMPUTING%20-%20NARINDERJIT%20SINGH%20SAWARAN%20SINGH.pdf
http://utpedia.utp.edu.my/id/eprint/21551/
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!