Generation of new low-complexity March algorithms for optimum faults detection in SRAM
Memory BIST implements March test techniques extensively for testing embedded memories on a chip. A high-complexity test algorithm like the March MSS (18N) can guarantee the detection of all unlinked static faults in SRAM. In contrast, March algorithms with lower complexity can be used to reduce tes...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , |
|---|---|
| التنسيق: | مقال |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Institute Of Electrical And Electronics Engineers Inc.
2023
|
| الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utem.edu.my/id/eprint/27493/2/0260402082023.PDF http://eprints.utem.edu.my/id/eprint/27493/ https://ieeexplore.ieee.org/document/9984966 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|