The influence of the accelerating voltages on the growth of the square structure during Electron Beam Induced Deposition (EBID) method
Electron beam induced deposition (EBID) is a method for high-resolution direct material deposition from the gas phase in the Scanning Electron Microscopy (SEM) onto a substrate. In this project, EBID method has been used to deposit the square shape carbon structure on the substrate using the resid...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | Learning Object |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Universiti Malaysia Perlis
2008
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://dspace.unimap.edu.my/xmlui/handle/123456789/1961 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|