Microstructural evolution of oxygen incorporated CdTe thin films deposited by close-spaced sublimation
Annealing; Argon; Cadmium telluride; Carrier concentration; Energy gap; Grain size and shape; II-VI semiconductors; Morphology; Optical properties; Oxygen; Scanning electron microscopy; Sublimation; Surface morphology; Thin films; X ray diffraction; Argon ambient; Argon/O2 ambient; Cadmium telluride...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | مقال |
| منشور في: |
Elsevier B.V.
2023
|
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|