صورة الغلاف

A study on signature analyzer for design for test (DFT)

This paper takes a look at the use of linear feedback shift registers (LFSR's) as test pattern generators (TPG's) and signature analyzers for built-in self-test (BIST). We also propose a method to generate pseudorandom test patterns. The proposed method can generate longer sequences...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: A'ain, Abu Khari, Lim, C. T., Kok, Hong Ng, Sheng, Kwang Ng, Liew, Eng Yew
التنسيق: Book Section
اللغة:English
منشور في: IEEE 2004
الموضوعات:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
الوصول للمادة أونلاين:http://eprints.utm.my/id/eprint/1888/1/AbuLimKok2004_StudyOnSignatureAnalyzerForDFT.pdf
http://eprints.utm.my/id/eprint/1888/
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
الوصف
الملخص:This paper takes a look at the use of linear feedback shift registers (LFSR's) as test pattern generators (TPG's) and signature analyzers for built-in self-test (BIST). We also propose a method to generate pseudorandom test patterns. The proposed method can generate longer sequences of the same set of test patterns.

مواد مشابهة